蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM系列，具有出色的分辨率，能夠輕松實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像以及高探測效率，適用于包括磁性材料的多種材料的高分辨成像與分析。無論是在高真空還是在可變真空壓力模式下，更高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備更佳的靈活性，可獲取各類樣品在微觀世界中清晰、真實(shí)的圖像。場發(fā)射掃描電鏡SEM檢測

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更新時(shí)間：2024-09-12

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發(fā)射掃描電鏡SEM相關(guān)檢測

項(xiàng)目	細(xì)則	收費(fèi)	說明
僅形貌觀察	每個(gè)樣品*20min，超出時(shí)間將按照每20min一個(gè)樣計(jì)算；樣限取5張照片/樣	/	/
僅元素分析測試	EDS元素分析/分布包括：點(diǎn)分析（限3點(diǎn)）；線分析；面分析	/	/
形貌觀察和元素分析	SEM每個(gè)樣品限取5張照片； EDS元素分析/分布包括；點(diǎn)分析（限3點(diǎn)）；線分析；面分析；	/	/
EBSD	/	/	制樣收費(fèi)面議
STEM	/	/	/
冷臺(tái)、熱臺(tái)、WetSTEM原位觀察	需要設(shè)計(jì)試驗(yàn)方案，價(jià)格面議。	/	/
鍍金	鍍層為Au 5nm	/	/
鍍鉑	鍍層為Pt 5nm	/	/

發(fā)射掃描電鏡SEM相關(guān)檢測

蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列，采用蔡司Gemini鏡筒，具有高品質(zhì)的成像和優(yōu)質(zhì)的分析能力，可選配備多種探測器，以滿足顆粒物、納米結(jié)構(gòu)、薄膜樣品等各種不同的應(yīng)用需求。EDS幾何設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)高性能的元素分析，無論哪種樣品適用范圍廣，且均可獲得準(zhǔn)確且可重復(fù)的分析結(jié)果。

[ 產(chǎn)品特點(diǎn) ]1. 靈活的探測手段獲取高分辨的圖像2. 智能高效的工作流程3. 高性能的分析系統(tǒng)4. 可擴(kuò)展拉曼光譜成像5. *的Gemini鏡筒設(shè)計(jì)-提升光學(xué)性能的同時(shí)，降低靜電場與磁場對樣品的影響

日立掃描電鏡

該分析用掃描電子顯微鏡適合用于研究大件，較重，較高的樣品。

▲樣品直徑達(dá)300mm?！捎^察范圍直徑達(dá)203mm。▲可對高達(dá)110mm的樣品進(jìn)行觀察和能譜分析。▲通用型接口布局滿足各種分析用途。

上一個(gè)：Fluorocube系列熒光光譜儀