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如何快速、準(zhǔn)確判斷TOPCon電池片PID效應(yīng)

更新時間:2023-11-20點擊次數(shù):1042

前言

電池轉(zhuǎn)換效率是決定組件乃至光伏系統(tǒng)發(fā)電效率的關(guān)鍵因素。當(dāng)前,p型PERC電池量產(chǎn)效率已經(jīng)接近技術(shù)瓶頸,逼近理論效率極限,而各類n型電池的量產(chǎn)效率普遍有較大提升空間,特別是TOPCon電池得到了眾多設(shè)備企業(yè)、電池組件企業(yè)和電站投資企業(yè)的青睞。

光伏組件在戶外運行時,不可避免地受到光照、溫度、濕氣等因素的影響,較容易地受到一些失效機制的影響,例如光致衰減、材料腐蝕和電勢誘導(dǎo)衰減(PID)等。近年來,報道的PID效應(yīng)變得愈發(fā)明顯,嚴(yán)重時會導(dǎo)致光伏組件在戶外運行中出現(xiàn)大面積的漏電和功率衰減現(xiàn)象。

PID效應(yīng)(Potential Induced Degradation)又稱電勢誘導(dǎo)衰減,是電池組件的封裝材料和其上表面及下表面的材料,電池片與其接地金屬邊框之間的高電壓作用下出現(xiàn)離子遷移,而造成組件性能衰減的現(xiàn)象,主要包含PID-s(分流型)、PID-p(極化型)PID-c(腐蝕型)效應(yīng)。

n型電池的電場相對p型電池更高,電荷集中對PN結(jié)內(nèi)建電場的影響更加明顯。n型電池載流子表面負(fù)荷主要集中于電池正面界面,與p型電池PN結(jié)方向相反,故PID衰減模式主要集中于電池正面,而電池正面是組件功率輸出的主力,導(dǎo)致TOPCon電池的PID效應(yīng)相比PERC電池更加明顯

一旦在組件端出現(xiàn)PID效應(yīng),將會造成嚴(yán)重的原材料和工序浪費。極大的影響效率與生產(chǎn)節(jié)奏。因此本著降本增效的目的,Freiberg instruments與Fraunhofer csp研究所聯(lián)合開發(fā)出一款能在電池片端檢測PID效應(yīng)的PIDcon Bifacial儀器。能同時輸出PID-s(分流型)、PID-p(極化型)和PID-c(腐蝕型)效應(yīng)對應(yīng)的敏感參數(shù)。

通過將電池片、封裝材料和玻璃在140°C下保溫,進行層壓預(yù)處理,模擬電池片在組件端的實際使用環(huán)境。施加高壓和高溫,較大限度底測試電池片相對于組件端的真實數(shù)據(jù),以達到良好的一致性。其測試示意圖如圖1所示。


圖1. PIDcon Bifacial儀器的測試示意圖

解決方案

PID-s發(fā)生的原因是:

Na+在高壓下飄逸穿越鈍化層填充于Si的堆垛層錯中,穿透并短路PN節(jié),這導(dǎo)致并聯(lián)電阻擊穿,造成嚴(yán)重的功率損耗。因此Freiberg instruments提供的PIDcon Bifacial儀器通過實時檢測電池片電導(dǎo)率的增量,來描述電池片對PID-s的敏感程度。其測試結(jié)果如圖2所示,超出綠色的區(qū)域的數(shù)據(jù)表明電池片發(fā)生明顯的PID-s現(xiàn)象,而測試時時間內(nèi)并未超出綠色的區(qū)域數(shù)據(jù)表明,此電池片對PID-s不敏感。

圖2. 太陽能電池片PID-s測試過程參數(shù)變化(實時監(jiān)控)

而太陽能電池片發(fā)生PID-p時,

宏觀電學(xué)性能上主要表現(xiàn)為短路電流和開路電壓的衰減。同時據(jù)多篇文獻報道,由于PID-p是離子聚集在鈍化層中破壞了場效應(yīng),衰減速度極快,需要實時記錄測試過中的IV曲線才能明確其衰減過程。

圖3為PIDcon Bifacial儀器在測試過程中實時監(jiān)控的IV曲線,IV曲線表明,隨著衰減過程的進行,開路電壓和短路電流不斷降低,于30min內(nèi)達到衰減極限。同時通過反轉(zhuǎn)極性來達到使其鈍化層恢復(fù)的目的。


圖3. 太陽能電池片PID-p衰減與恢復(fù)過程(實時監(jiān)控)

對于PID-c,

由于介電層、 透明導(dǎo)電氧化物薄膜或金屬接觸的電化學(xué)反應(yīng)而造成的腐蝕效應(yīng)。這是一種物理層面的破壞作用,屬于太陽能電池片中不可逆的PID效應(yīng)。因此,由于PID-c引起的開路電壓、短路電流和功率降低是無法被回復(fù)的。當(dāng)發(fā)生PID-c效應(yīng)時PIDcon Bifacial儀器記錄的IV曲線在反轉(zhuǎn)電壓極性后,無法回復(fù)到初始狀態(tài),如圖4所示。

圖4. 太陽能電池片PID-c測試過程參數(shù)變化(實時監(jiān)控)

綜上所述,F(xiàn)reiberg公司的PIDcon Bifacial儀器能在電池片端檢測其PID效應(yīng),辨別出存在PID隱患的電池片,阻止其流入下游生產(chǎn)端,提高產(chǎn)品良率。也為下游生產(chǎn)端減輕了PID測試負(fù)擔(dān),可以同時達到控制成本和提高效率的目的。

參考文獻:

1. Devoto I, Halm A. Comprehensive study of PID mechanisms for n-type bifacial solar cells[C]//Proceedings of the 36th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition (EU PVSEC 2019), Marseille, France. 2019: 9-13.

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